Ⅰ fanuc 18i 立式加工中心 B軸刀頭左右輕微轉動是什麼樣的故障怎麼處理
是"主軸"刀頭左右輕微轉動吧？一般是主軸換擋沒有完成，檢查一下擋位開關或者換擋電磁閥是否良好。
主軸設計輕微轉動的目的是為了齒輪能順利嚙合。
Ⅱ 走心機第一軸Y和第二軸干涉怎麼處理
咨詢記錄 · 回答於2021-09-16
Ⅲ 關於solidworks中Cosmosmotion做動畫時產生干涉的問題
如果你沒把相應的零件固定好，造成機構的自由度太多，再加上是使用馬達讓它轉動，這樣整個裝配體無規則動起來了是很正常的，你可以試著使用三重軸來轉動或移動零件，或者直接用滑鼠拖動零件，前提都是要在時間軸上放置好對應的鍵碼。第二：也可以把裝配關系都做好，例如用面與面之間的角度或距離去約束裝配體，然後在做動畫的時候在動畫欄左邊找到相應的裝配關系，例如角度，在對應位置放置不用的鍵碼，設置時間，然後右鍵時間鍵碼設置角度的變化，重新計算應該可以得到效果，如手臂左右、上下的旋轉而不必用到馬達，有時候做這類的動畫是很需要耐心的，還有電腦可能會有點卡！！！
Ⅳ 軸性及切面方向的確定
(一)一軸晶垂直光軸和二軸晶垂直 Bxa(2V 小於 80°時)切面的確定
一軸晶垂直光軸和二軸晶垂直 Bxa 切面的干涉圖比較獨特，均由完整的黑十字和干涉色圈(或僅有黑十字而無干涉色圈，黑十字以外出現一級灰干涉色)組成。因此，根據它們干涉圖的圖像特點可以確定其軸性及切面方向。
對於雙折率大或厚度較大的礦片，如果幹涉圖由一個完整的黑十字加同心圓狀干涉色圈組成，並且在轉動物台 360°過程中，黑十字不發生彎曲，亦即干涉圖不發生變化，即為一軸晶垂直光軸切面的干涉圖(一軸晶其他方向切面及二軸晶礦片不具這種圖像特點的干涉圖)(圖 5 －30A)。如果幹涉圖由一個粗細不等的黑十字加 「 」字形干涉色圈組成，在轉動物台過程中干涉圖發生變化(具體表現為 「 」字形干涉色圈隨光軸出露點移動，但形狀不變。而粗細不等的黑十字則會依次出現兩個對稱的彎曲黑帶或位置改變的粗細黑帶)，即為二軸晶垂直 Bxa 切面的干涉圖(圖 5 －30B)。
圖5-30 一軸晶垂直光軸(A)和二軸晶垂直 Bxa(B)切面干涉圖的比較
對於雙折率小或厚度較小的礦片，兩者均為一個黑十字(四個象限僅為一級灰干涉色)，無干涉色圈。它們的區別在於二軸晶垂直 Bxa 切面干涉圖的黑十字粗細不等，並且隨物台的轉動黑十字會分裂形成兩個對稱的彎曲黑帶(轉動物台 360°，黑十字有四次分裂、復合現象)，而一軸晶垂直光軸切面的干涉圖不發生變化。
(二)一軸晶斜交光軸、二軸晶垂直一個光軸和二軸晶斜交光軸(或 Bxa)切面的確定
(1)一軸晶斜交光軸切面的干涉圖，在光軸傾角不大的情況下，與二軸晶斜交 Bxa切面的干涉圖相似，均由不完整的黑十字和不完整的干涉色圈組成(圖 5 －31)。在轉動物台過程中，如果黑十字交點繞視域中心作圓周運動，而黑帶同時作上下、左右平行移動。如有干涉色圈(對於雙折射率小或較薄的礦片，沒有干涉色圈)，也會隨黑十字交點移動，即為一軸晶斜交光軸的切面(圖 5 － 31A)。如果不完整的黑十字粗細不等，且轉動物台過程中，黑十字會分裂形成兩個不完整的彎曲黑帶，則為二軸晶斜交 Bxa 的切面(圖 5 － 31B)。
圖5-31 一軸晶斜交光軸(A)和二軸晶斜交 Bxa(B)切面干涉圖的比較
(2)一軸晶斜交光軸切面的干涉圖，在光軸傾角較大的情況下，與二軸晶垂直一個光軸切面或二軸晶垂直光軸面的斜交光軸切面的干涉圖相似，均由一條直的黑帶和部分干涉色圈(對於雙折射率小或較薄的礦片，沒有干涉色圈)組成(圖 5 － 32)。在轉動物台過程中，如果黑帶作上下、左右平行移動，並交替出現在視域內，同時干涉色圈也隨之移動，即為一軸晶斜交光軸的切面(圖 5 － 32A); 如果幹涉色圈呈 「卵形」，黑帶在物台轉動過程中發生彎曲，且彎曲黑帶頂點位於視域中心，則為二軸晶垂直一個光軸的切面(圖 5 －32B); 如果幹涉色圈呈不完整的 「卵形」，黑帶在物台轉動過程中仍發生彎曲，但彎曲黑帶頂點不在視域中心，則為二軸晶垂直光軸面的斜交光軸切面(圖 5 － 32C)。
(3)一軸晶斜交光軸切面的干涉圖，在光軸傾角很大的情況下，與二軸晶斜交光軸面的斜交光軸切面的干涉圖不易區分(圖 5 － 11，圖 5 － 25)，往往不易判斷其軸性和切面方向。
(三)一軸晶平行光軸、二軸晶垂直 Bxo 和二軸晶平行光軸面切面的確定
一軸晶平行光軸切面的干涉圖，與二軸晶垂直 Bxo 和二軸晶平行光軸面切面的干涉圖相似，均為粗大(模糊)的黑十字，幾乎占據整個視域。轉動物台，粗大黑十字發生分裂，並迅速退出視域。它們的逸出角大小雖有所差異，分別為 12° ～ 15°(一軸晶平行光軸切面)、12° ～35°(二軸晶垂直 Bxo 切面)和 7° ～12°(二軸晶平行光軸面切面)，但在實際工作中卻往往難以區分。因此，上述三種切面的干涉圖一般不用於確定礦片的軸性。當然，在軸性已知的情況下，可用於確定其切面方向。
圖5-32 一軸晶斜交光軸(A)、二軸晶垂直一個光軸(B)和二軸晶垂直光軸面的斜交光軸(C)切面干涉圖的比較
Ⅳ 二軸晶干涉圖及光性正負的測定
二軸晶光率體為三軸不等的橢球體，干涉圖比一軸晶復雜。它有五種切面類型及其對應的干涉圖：①⊥Bxa切面的干涉圖，②⊥OA切面的干涉圖，③斜交切面干涉圖，④⊥Bxo切面干涉圖，⑤平行光軸面切面的干涉圖。必須搞清四個位置，三個前提。
一、垂直銳角等分線（⊥Bxa）切面的干涉圖
1.圖像特點
（1）0°位置
當光軸面與上、下偏光的振動方向平行時，（這種切片在正交偏光鏡下干涉色較低，但比垂直光軸切片干涉色高）。干涉圖由一個黑十字及「∞」字形的干涉色色圈組成（圖6-23，圖6-24A；圖版Ⅱ-5），黑十字交點為銳角等分線（Bxa）出露點，位於視域中心，黑帶一粗一細，沿光軸面方向的黑帶較細，尤以兩個光軸出露點最細，垂直光軸面方向（即Nm方向）黑帶較寬。在四個象限內出現干涉色色圈，色圈以兩個光軸出露點為中心，越向外干涉色越高，色圈也越密。近光軸處色圈呈卵形向外合並成「∞」字形。干涉色色圈的多少與礦物的雙折射率的大小及薄片厚度成正比。
圖6-23 二軸晶⊥Bxa切面干涉圖（上部為波向圖，下部為立體圖）
圖6-24 二軸晶垂直Bxa切面的干涉圖
（2）45°位置
旋轉載物台，黑十字從中心分裂成兩個彎曲的黑帶。當光軸面與上、下偏光鏡振動方向PP、AA成45°夾角時，黑帶彎曲度最大，成雙曲線對稱出現（圖6-24B），雙曲線彎曲的頂點為兩個光軸的出露點。兩個光軸出露點連線為光軸面跡線方向，連線的中心為銳角等分線（Bxa）的出露點，兩個光軸頂點間的距離與2V大小成正相關。光軸角越小，雙曲線彎曲頂點距離越近，若兩個光軸出露點在視域內，則2V＜45°；若兩個光軸出露點在視域外，則2V＞45°。在轉動載物台時，「∞」字形干涉色色圈僅隨光軸出露點移動，其形狀不改變。
（3）90°位置
轉動物台至90°，則干涉圖與0°位置時相似，僅粗細黑帶及干涉色色圈的位置同時轉動了90°（圖6-24C）。
2.成因
二軸晶干涉圖的成因，仍可用波向圖解釋。波向圖可用拜阿特-弗倫涅爾定律（簡稱拜-弗定律）作出。也可用球面投影和正射投影方法作出。拜阿特-弗倫涅爾定律：沿任意方向射入二軸晶礦物的光波，其波法線與兩個光軸構成相交的兩個平分面，其夾角的兩個平分面跡線方向就是垂直該光波的光率體橢圓切面的長短半徑方向分布圖（波向圖），即該光波分解形成的兩種偏光的振動方向（圖6-25）。垂直Bxa切面的波向圖也可應用拜阿特-弗倫涅爾定律在平面上直接作出。在垂直Bxa切面上，入射光波出露點與兩個光軸出露點連線夾角的兩個分角線方向，代表垂直該入射光波（波法線）的光率體橢圓半徑方向（圖6-26），即為兩個偏光的振動方向。
（1）黑十字及彎曲黑帶的成因
在垂直Bxa切面的波向圖中（圖6-27），當光軸面（AP）跡線方向與上、下偏光鏡振動方向（AA、PP）之一平行時（圖6-28 A）。在光軸面跡線方向及Nm方向上，光率體橢圓半徑與 AA、PP平行或近於平行；在正交偏光鏡間消光或近於消光，構成黑十字。在Nm方向上，光率體橢圓半徑與AA、PP平行或近於平行的范圍較寬，故其黑帶較寬；在光軸面跡線方向上，光率體橢圓半徑與AA、PP平行或近於平行的范圍較窄，在光軸出露點處更窄，故光軸面跡線方向的黑帶較窄，光軸出露點處更窄。
圖6 25 拜阿特 弗倫涅爾定律
轉動載物台，波向圖中心部分的光率體橢圓半徑首先與AA、PP斜交而變亮，所以黑十字從中心分裂。當光軸面與AA、PP成45°夾角時（圖6-28B），只有兩個彎曲黑帶范圍內的光率體橢圓半徑與AA、PP平行或近於平行，在正交偏光鏡間消光或近於消光，構成對稱的兩個彎曲黑帶。
（2）干涉色色圈的成因
在黑十字或彎曲黑帶范圍以外，光率體橢圓半徑與AA、PP斜交（圖6-28），在正交偏光鏡間發生干涉作用，如為白光光源，形成干涉色。
為什麼構成「∞」干涉色色圈，而且干涉色級序愈外愈高?這是因為二軸晶礦物有兩個光軸。在垂直Bxa的礦片中，Bxa方向垂直礦片平面，兩個光軸方向是傾斜的（圖6-29）。光波沿兩個光軸方向射入時，不發生雙折射，其光程差等於零，斜交光軸射入的光波，發生雙折射，其光程差從光軸出露點的零起，向外逐漸增加，因而相應的干涉色以兩個光軸出露點為中心，向外干涉色級序逐漸升高，愈外干涉色級序愈高。在兩個光軸出露點的周圍，光程差相等，干涉色相同的點，構成兩個卵形。在Bxa出露點，光程差不再增加，干涉色級序不再升高，故其干涉色色圈相連而構成「∞」字形。
圖6-26 拜阿特-弗倫涅爾定律平面示意圖
圖6-27 垂直Bxa切面的波向圖（2V=60°）
圖6-28 二軸晶垂直Bxa切面干涉圖中黑十字（A）及彎曲黑帶（B）的成因
3.垂直Bxa切面干涉圖的應用
（1）確定軸性及切面方面
（2）確定光性符號
圖6-29 垂直Bxa切面干涉圖中干涉色色圈成因示意圖（上為平面體，下為立體圖）
前已述及二軸晶礦物的光性正負劃分原則是：當Bxa=Ng時，為正光性；當Bxa=Np時，為負光性。所以只要測出Bxa是Ng還是Np，就可解決正負光性問題。因此必須搞清干涉圖中的四個位置和三個前提。四個位置：①光軸出露點，②光軸面，③光軸面的法線是Nm，④Bxa 出露點（圖 6-30）。三個前提：①Ng＞Nm＞Np，三者互相垂直，②光軸面法線方向永遠是 Nm；③Bxa=Ng時，為二（+），Bxa=Np時，為二（-）。測定時，首先將光軸面轉到與 AA、PP成45 °夾角的位置，此時干涉圖為一對彎曲黑帶，在光軸面跡線上，兩個彎曲黑帶頂點（光軸出露點）內外的光率體橢圓長短半徑的分布方位因光性正負而不同（圖6-31）。當確認干涉色級序後，加入試板，據其干涉色變化即可判斷光性正負。
當干涉色圖中彎曲黑帶以外僅具Ⅰ級灰干涉色時，插入石膏試板，彎曲黑帶變為Ⅰ級紅，二彎曲黑帶頂點之間由Ⅰ級灰變為Ⅱ級藍，干涉色升高，同名半徑平行（如圖試板半徑為已知），證明Bxa=Ng，故為正光性（圖6-32B）。同上述現象相反，則為負光性（圖6-32C；圖版Ⅱ-6）。
圖6-33表示干涉色色圈多的干涉圖，加入雲母試板後干涉色升降變化情況。圖6-33中彎曲黑帶變為Ⅰ級灰，而二彎曲黑帶頂點之間，干涉色色圈向內移動，干涉色升高，同名半徑平行，證明Bxa=Ng，為正光性。彎曲黑帶凹方出現兩個小黑團，且干涉色色圈向外移動，干涉色降低，異名半徑中試板方位未變，但干涉色升降變化與圖6-33A相反`，證明Bxa=Np，Bxo=Ng，為負光性。
圖6-30 二軸晶⊥Bxa切面干涉圖中Bxo與Bxa的投影方向
圖6-31 二軸晶正光性晶體（+），負光性晶體（-）的垂直Bxa切面干涉圖中，光軸面跡線上光率體橢圓長短半徑的分布方位
（3）估計光軸角大小
根據兩彎曲黑帶之間距離，可以估計2V的大小（圖6-34）。⊥Bxa干涉圖處於45°位置時，根據兩個光軸出露點之間距離即可估計光軸角的相對大小。如尋找金剛石的母岩——金伯利岩中的金雲母，在岩礦鑒定中就常用⊥Bxa切面干涉圖來區別黑雲母。因為金雲母光軸角較小，兩個光軸出露點之間距離就較近；而黑雲母光軸角較大，則兩光軸出露點的距離就較大。
圖6-32 二軸晶⊥Bxa切面干涉圖正負光性測定
圖6-33 二軸晶⊥Bxa切面干涉色圈多，加入雲母試板後，色圈內移干涉色升高，色圈外移干涉色降低
二、垂直一個光軸（OA）切面的干涉圖
1.圖像特點
垂直一個光軸切面的干涉圖相當於⊥Bxa干涉圖的一半（圖6-35～圖6-38），其光軸出露點位於視域中心。另一半在視域外。
（1）0°位置
當光軸面與上、下偏光鏡振動方向之一平行時，出現一個直的黑帶及卵形干涉色色圈（雙折率較大或薄片較厚）（圖6-38A；圖版Ⅱ-7），黑臂較細的地方為光軸出露點。
（2）45°位置
旋轉載物台，當光軸面與上、下偏光鏡振動方向成45°時，黑帶彎曲度最大（圖6-38B），其頂點為光軸出露點，位於視域中心，彎曲黑臂頂點凸向Bxa出露點。在觀察時，這一點具有特殊的重要性。
（3）90°位置
旋轉載物台至90°時，黑帶又成一個直的黑帶，但其方向已改變90°，如有色圈，也跟著轉動，但其形狀不變（圖6-38C）。
（4）135°位置
黑帶由至再度彎曲，且彎曲度最大（圖6-38D）。在轉動載物台過程中，光軸出露點始終位於視域中心。
2.⊥OA切面干涉圖的應用
（1）確定軸性及切面方向
根據圖6-38，旋轉載物台黑臂不是上下、左右平行移動，而是彎曲移動，說明它是二軸晶，而光軸出露點始終位於視域中心，則是二軸晶垂直一個光軸切面的干涉圖。
（2）估計光軸角2V的大小
在垂直光軸切面干涉圖中，當光軸面在45°位置時，可根據黑帶（消光影）的變彎曲程度估計光軸角2V的大小（圖6-39），光軸角越大，黑帶彎曲度越小；光軸角越小，黑臂彎曲度越大。當光軸角為0°時，兩個光軸出露點合而為一，故兩個彎帶成直角而構成黑十字；當光軸角為90°時，黑帶為一直帶。
（3）測定光性正負
二軸晶垂直一個光軸切面干涉圖（圖6-40）相當於垂直Bxa干涉圖的一半，光軸出露點位於視域中心，圍繞光軸出露點有卵形干涉色色圈。
圖6-34 二軸晶⊥Bxa干涉圖上根據消光影之間的距離估計2V大小
確定垂直一個光軸切面干涉圖的光性符號正負，可以把它當成⊥Bxa切面的干涉圖的一半，另一半在視域外，在45°位置時，視域內彎曲黑帶的凸方指向Bxa出露點，加入試板後觀察光軸出露點兩側區域干涉色變化。根據補色法則便可確定光率體長短半徑的分布，確定Bxa為Ng或Np，從而確定光性正負（圖6-40，6-41；圖版Ⅱ-8）。斜交光軸的切片中，光軸在礦片中的位置是傾斜的。既不垂直銳角等分線（Bxa），也不垂直光軸（OA），但是較接近於它們的斜交切面，屬斜交光軸切面干涉圖，其黑帶及干涉色色圈均不完整，轉動載物台，黑帶彎曲移動，在45°位置時，彎曲黑帶頂點（光軸出露點）不在視域中心。斜交光軸切面的干涉圖有兩種類型。
圖6-35 二軸晶⊥OA干涉圖（上部為干涉圖，下部為立體圖）
圖6-36 二軸晶⊥OA干涉圖（光軸面在0°位置）
圖6-37 二軸晶垂直一個光軸干涉圖（光軸面在45°位置）
晶體光學與造岩礦物
圖6-39 二軸晶垂直一個光軸切面干涉圖利用消光影彎曲程度估計2V大小
圖6-40 垂直一個光軸切面干涉圖
圖6-41 垂直一個光軸切面干涉圖
三、斜交切面的干涉圖
1.圖像特點
二軸晶斜交切面干涉圖是二軸晶礦物中最常見的干涉圖，它的光軸在礦片中的位置是傾斜的，它既不垂直Bxa，也不垂直光軸（OA）。由於斜交角度不同，其圖像類型較多，但常見的有兩種類型。
（1）斜交Bxa切面的干涉圖（6-42上）
①Bxa出露點偏離視域中心，轉動物合，黑臂的移動及出現的圖形不像垂直Bxa切面干涉圖那樣完整。
②黑帶與干涉色色圈均不完整，轉動載物台黑帶彎曲移過視域。
③當光軸面與上、下偏光鏡振動方向成45°位置時，彎曲黑帶頂點連線不通過視域中心。
（2）斜交光軸切面的干涉圖（6-42下）
圖6-42 二軸晶斜交Bxa切面（上）和斜交光軸切面（下）的干涉圖
①光軸出露點偏離視域中心，轉動物台，黑帶的移動及出現的圖形不像垂直光軸切面干涉圖那樣完整。
②當光軸面與上、下偏光鏡振動方向之一平行時，直黑帶不通過視域中心而偏向視域的一側。
③轉動載物台，黑帶彎曲，當光軸面與上、下偏光鏡振動方向成45°時，彎曲黑帶頂點不在視域中心。
如果光軸傾角不大時，彎曲黑帶頂點在視域之內，如果光軸傾角較大，則彎曲黑帶頂點在視域之外。要注意二軸晶斜交光軸的黑帶是斜掃十字絲移動；一軸晶斜交光軸的黑帶是平行十字絲移動。
2.斜交切面干涉圖應用
（1）確定軸性及切面的方向
（2）測定光性符號
斜交切面干涉圖，可視為垂直Bxa切面干涉圖的一部分。轉動載物台，根據黑帶彎曲移動情況，找出黑帶彎曲頂點的凸凹方向之後，便可確定銳角區、鈍角區，黑帶（消光影）突出一側總是朝向銳角等分線出露點，插入試板即可按垂直Bxa切面干涉圖的方法測定光性符號：Bxa=Ng，為二軸正光性，Bxa=Np，為二軸負光性。
在實際鑒定中，二軸晶斜交切面干涉圖最常見，因此，必須熟練掌握彎曲黑帶移動規律。
四、垂直鈍角等分線（⊥Bxo）切面干涉圖
1.圖像特點
（1）當光軸面與上、下偏光鏡振動方向之一平行時，為一個粗大的黑十字（圖6-43，6-44A），黑十字交點為Bxo出露點，光軸出露點在視域之外。黑十字的四個象限僅出現一級灰干涉色。
（2）轉動載物台，黑十字較快的分裂成兩個彎曲黑帶（圖6-44B），沿光軸面方向退出視域（轉角為12°～35°）。
（3）當光軸面與上、下偏光鏡振動方向成45°夾角時，彎曲黑帶間距離最遠，其頂點仍為光軸出露點，都在視域之外（圖6-44C）。
圖6-43 二軸晶⊥Bxo切面干涉圖
圖6-44 二軸晶⊥Bxo切面干涉圖
（4）繼續轉動載物台，彎曲黑帶逐漸靠近，至90°時又出現一個粗大的黑十字。繼續轉動載物台，黑十字又分裂。
2.成因
在⊥Bxo切面的波向圖（圖6-45）中，當光軸面與上、下偏光鏡振動方向之一平行時，比較多的光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動方向平行或接近平行，在正交偏光鏡間消光或近於消光，構成粗大的黑十字。旋轉載物台，大多數光率體橢圓半徑與AA、PP斜交，而且是中心部位首先斜交，AP方向邊部最後斜交。因此，粗大的黑十字較快地從中心分裂，沿AP方向退出視域。
當礦物的2V很大時，兩個光軸間的鈍角與銳角大小接近，⊥Bxo切面的干涉圖與⊥Bxa切面的干涉圖不易區分。當礦物的2V很小時，兩個光軸間的鈍角很大，⊥Bxo切面干涉圖中，兩個光軸出露點之間的距離很長。轉動載物台時，黑十字分裂退出視域的速度快（即逸出角小），此時⊥Bxo切面干涉圖難於與平行光軸面切面干涉圖區別。
3.⊥Bxo切面干涉圖的應用
應用逸出角法確定屬於⊥Bxo切面干涉圖後，可用於確定礦物的切面方向和測定光性符號。
當光軸面與上、下偏光鏡振動方向成45°夾角時，視域中心為Bxo出露點（圖6-44C），在兩個彎曲黑帶頂點之間，與光軸面跡線一致的方向是Bxa的投影方向，垂直光軸面跡線的方向為Nm方向。加入試板後，根據視域內干涉色的升降變化，可確定光性符號。但一般不用這種切面測定光性符號。
五、平行光軸面（∥AP）切面的干涉圖
1.圖像特點
其圖像特點與一軸晶平行光軸切面的干涉圖相似，正交鏡下干涉色最高。
（1）當Bxa和Bxo方向分別平行AA、PP時，為一個粗大模糊的黑十字，幾乎占據整個視域（6-45）。
（2）轉動載物台，粗大黑十字分裂並沿Bxa方向迅速退出視域。一般轉角為7°～12°。因變化迅速，又稱瞬變干涉圖或閃圖。
（3）當Bxa方向與AA、PP成45°夾角時，視域最亮。如果礦片的雙折率較大或礦片較厚，可看到對稱的弧形干涉色帶（圖6-46）。在Bxa方向上，從中心向兩邊干涉色級序降低，在Bxo方向上，從中心向兩邊干涉色級序稍升高或相近，即Bxa方向的干涉色低於Bxo方向。
圖6-45 平行光軸面切面干涉圖（下部為立體圖，上部為干涉圖）
圖6-46 平行光軸面切面干涉圖
圖6-47 平行光軸面切面波向圖（2V=60°）
2.成因
在平行光軸面切面的波向圖中（圖6-47），當Bxo分別與AA、PP平行時，幾乎所有的光率體橢圓半徑與AA、PP平行或近於平行，在正交偏光鏡間消光或近於消光，構成粗大模糊的黑十字。旋轉載物台，幾乎所有光率體橢圓半徑都與AA、PP斜交，而且是中央部位首先斜交，故粗大黑十字從中心分裂，並迅速退出視域，整個視域明亮。為什麼Bxa方向的干涉色級序低於Bxo方向?這是因為Bxa方向的雙折率總是小於Bxo方向的雙折率。
3.平行光軸面切面干涉圖的應用
（1）當軸性已知時，可用以確定切面方向。但不能用以確定軸性，因為這種切面的干涉圖與一軸晶平行光軸切面干涉圖難於區分。
（2）當軸性已知時，亦可用以測定光性符號。根據黑帶退出視域方向45°位置時干涉色級序較低的方向為Bxa方向，找出Bxa在干涉圖中的方位後（圖6-46），加入試板，根據整個視域內干涉色級序的升降變化，確定Bxa是Ng還是Np，確定光性符號。或取消錐光裝置，使Bxa方向在45°位置，加入試板，觀察礦片干涉色升降變化，確定Bxa是Ng或是Np，確定光性符號，但一般不用這種切面測定光性符號。
Ⅵ 怎樣檢查傳動軸是否能正常工作
汽車傳動軸，顧名思義是傳遞汽車動力的一個重要部件，它屬於是一種高轉速旋轉體，對汽車的動平衡起到至關重要的作用。
原因
突緣叉連接螺栓松動。萬向節主、從動部分游動角度加大。萬向節十字軸磨損嚴重。萬向節突緣叉連接螺栓松動。萬向節軸承磨損松曠。滑動叉磨損松曠。
故障診斷與排除方法
用榔頭輕輕敲擊各萬向節突緣盤連接處，檢查其松緊程度，太松曠則故障由連接螺栓松動引起。
檢查萬向節突緣叉連接螺栓，若松動，則故障由此引起。
用兩手分別握住萬向節、滑動叉的主、從動部分檢查游動角度。萬向節游動角度太大，則異響由此引起；滑動叉游動角度太大，則異響由此引起。
故障五：運行中出現連續的“嗚嗚”響聲。
現象 汽車運行中出現一種連續的“嗚嗚”響聲，車速越高響聲越大。
原因
缺油燒蝕或磨損嚴重。中間支撐安裝方法不當，造成附載入荷而產生異常磨損。橡膠圓環損壞。車架變形，造成前後連接部分的軸線在水平面內的投影不同線而產生異常磨損。
故障診斷與排除方法
給中間支撐軸承加註潤滑脂。松開加緊橡膠圓環的所有螺釘，待傳動軸轉動數圈後再擰緊。
故障六：行駛中有異響，並伴隨車身振抖。
現象 超過中速會出現異響，車速越高響聲越大，達到一定車速時車身振抖。此時，若立即脫檔滑行，則振響更強烈，當降到中速時，振動稍降，但傳動軸異響仍然存在。
原因
傳動軸彎曲或平衡片脫落。中間軸承支架及橡膠墊環磨損松曠。傳動軸萬向節滑動叉的花鍵配合松曠。發動機前、後支架的固定螺栓松動。發動機各部件不平衡。
故障診斷及排除方法
周期性發響，應檢查傳動軸是否彎曲，平衡塊有無脫落，萬向節滑動叉花鍵配合是否松曠。
連續振響，應檢查中間軸承支架及橡膠墊環是否徑向間隙過大，若良好，可拆下軸承支架，檢查中間軸承有無松曠和支架螺栓是否松動等。若傳動軸總成良好，則應檢查發動機固定是否牢固。
Ⅶ 平行光軸面（AP）切片的干涉圖
（一）圖像特點（圖6-43）
與一軸晶平行光軸切片的干涉圖相似。當Bxa和Bxo方向分別平行上、下偏光鏡振動方向時，干涉圖為粗大模糊的黑十字，幾乎占據整個視域（圖6-43A）。轉動物台，黑十字分裂並沿Bxa方向迅速退出視域，一般轉角為7°～12°。故稱瞬變干涉圖或閃圖。當Bxa、Bxo方向與上、下偏光鏡振動方向成45°夾角時，視域最亮。如果礦片的雙折射率較大或礦片較厚，可出現干涉色色帶（圖6-43B）。在Bxa方向上，從中心向兩邊干涉色降低，在Bxo方向的兩個象限，干涉色與中心相近或稍升高，即Bxa方向的干涉色低於Bxo方向。
圖6-43 平行光軸面切片的干涉圖
圖6-44 平行光軸面切片的波向圖（2V=60°）
（據E.E.Wahlstrom,1953）
（二）干涉圖的成因
在平行光軸面切片的波向圖中（圖6-44），當Bxa、Bxo分別與上、下偏光鏡振動方向平行時，幾乎所有的光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動方向平行或近於平行，在正交偏光鏡間消光或近於消光，構成粗大模糊的黑十字。稍轉物台，幾乎所有的光率體橢圓半徑都與上、下偏光鏡振動方向斜交，而且是中央首先斜交，故黑十字從中心分裂，並迅速退出視域，整個視域明亮。
（三）平行光軸面切片干涉圖的應用
1.可以確定切片方向
當軸性已知時，可以確定切片方向。但不能確定軸性，因為這種切片的干涉圖與一軸晶平行光軸切片干涉圖難以區分。
2.測定光性符號
當軸性已知時，也可以測定光性符號。根據黑帶退出視域方向或45°位置時干涉色較低的方向為Bxa方向，找出Bxa在干涉圖中的方位後（圖6-43B），加入試板，根據視域內干涉色的升降變化，確定Bxa是Ng還是Np，確定光性符號。也可取消錐光裝置，使Bxa方向在45°位置，加入試板，觀察礦片干涉色升降變化，確定Bxa是Ng或是Np，確定光性符號。
學習指導
本章學習是在正交偏光鏡的基礎上，所應用的基本原理與正交偏光鏡的原理相同。學習時應先熟悉錐光鏡的裝置及光學特點，如何獲取干涉圖，再進一步認識各種干涉圖的圖像特徵。
1.對於一軸晶要重點認識垂直光軸切片干涉圖，學會測定光性符號。斜交光軸切片干涉圖測定光性符號關鍵在於確定黑十字交點在視域的方位，其測定光性符號與垂直光軸切片干涉圖相同。
2.二軸晶重點認識垂直銳角等分線和斜交光軸切片的干涉圖及其圖像特徵，學會測定光性符號。在測定光性符號時關鍵是根據Bx。等於Ng還是Np來確定，最好使用光軸面與AA、PP成45。夾角時的干涉圖，分清Nm及Bxa與Bxo的投影方向，知道了干涉圖中BXx、Bxo及Nm方位後，加入試板，可根據彎曲黑帶頂點內外干涉色級序的升降變化，確定Bxa是Ng還是Np，就能確定二軸晶的光性符號。
復習思考題
1.錐光鏡的裝置及光學特點與正交偏光鏡的裝置及光學特點有哪些不同點及相同點？
2.一軸晶斜交光軸切片干涉圖，為什麼黑十字交點不在視域中心？轉動物台時，為什麼黑十字交點作圓周運動？黑帶作上下、左右平行移動？
3.當礦物的2V很小時，斜交Bxa切片干涉圖（Bxa出露點在視域之外），轉動物台時，黑帶的移動情況與一軸晶斜交光軸切片干涉圖（光軸出露點在視域之外）黑帶移動情況有無區別？為什麼？
4.為什麼瞬變干涉圖不能判斷軸性？這種切片的干涉圖有何用途？
5.垂直光軸面的斜交光軸切片干涉圖，當光軸面與上、下偏光鏡振動方向之一平行時，為什麼直的黑帶通過視域中心，並平分視域？此時Nm在什麼方向？為什麼？這種切片為什麼能代替垂直光軸切片？
Ⅷ 如何避免五軸聯動加工中心加工中的干涉檢測及方法
現代CA M系統允許用戶自己選擇合適的刀具，然而用戶僅憑自己的經驗幾乎是不可能確定一個最優的無干涉的刀具組合。另外，已發表的自動選擇多個刀具組合的演算法主要集中在三軸加工的刀具選擇上。為了確保五軸數控機床的高效率和高質量的切削加工，本文提出一種方法來自動地選擇一組無干涉的刀具組合。
該方法是基於我提出的自動選擇一個最大的無干涉的刀具來加工整個曲面的演算法的基礎之上。這個問題可以概括為「已知一個設計好的自由曲面，一個五軸的機床和一個刀具庫，選擇一組最優的刀具組合來加工這個曲面，此方法分為兩步：首先確定刀具庫中的每把刀具在接觸曲面的每一點時的角度范圍，最優的刀具組合由每個區域最大的可行刀具組成。
干涉的檢測和校核方法在五軸數控加工中，通常用的刀具有三種：
平底刀，環形刀和球形刀。環形刀由三個參數表示：刀具半徑(R圓環半徑(rf和刀具長度(L環形刀具有代表性，因為當rf等於零時，該刀就轉換成平底刀；當R和rf相等時，該刀則轉換成球形刀。NURBS曲面是最常用的一種精確的自由曲面表達方式之一，大多通用的三維設計軟體中都可以實現NURBS曲面的生成。因此，對環形刀和NURBS曲面進行研究。
為了檢測和校核刀具和曲面的干涉情況，一個坐標系統首先要建立起來。這個坐標系統由三個坐標系構成：世界坐標系(XWYWZW局部坐標系(XLYLZL和刀具坐標系(XTYTZT一點Pc上，局部坐標系(XLYLZL坐標原點位於Pc點，其ZL軸沿著曲面在該點的外法線方向，XL軸和YL軸則分別是沿著曲面在該點的最大和最小法向曲率方向。刀具坐標系(XTYTZT坐標原點位於刀具底面的中心點，其ZT軸沿著刀具軸線的方向，XT軸垂直於ZT軸並且指向Pc點，而YT軸由ZT軸和XT軸的右手法則確定。刀具可以由一對方位角(λ，θ)來定位，其中傾斜角λ和側偏角θ分別是刀具軸線繞XL軸和ZL軸逆時針旋轉的角度。
a環形刀及其參數b坐標系統在進行干涉檢測時，一組離散的特徵點用來近似地表示要加工的曲面，這些特徵點的原始數據均在世界坐標系中表示。
為方便計算，特徵點數據需要從世界坐標系變換到局部坐標系，再由局部坐標系變換到刀具坐標系中來表示。曲面的每一點上，刀具的干涉分為四類：局部干涉、刀後部干涉、刀軸干涉和刀具與機床的干涉。五軸加工中，當刀具出現任何一種干涉時，可以通過旋轉刀具而改變刀具的方向角來實現無干涉的加工。根據這不同干涉的發生條件，應用對應的校核方法，則該點的無干涉的刀具角度就可以確定下來。
Ⅸ 立式加工中心出現2112報警《手動移動軸互鎖》第四軸--A軸動不了 求解
M10,M11
Ⅹ 雙縫干涉實驗中，若把單縫S從雙縫S1 S2的中心對稱軸位置稍微向上移動，則中央亮條紋怎樣移動
仍可產生干涉條紋，中央亮紋P的位置略向下移
注意：教材中雙縫干涉實驗是兩個波源振動情況相同的干涉現象，中央亮紋的位置到s1、s2、s的路程差等於0的位置！
在雙縫干涉實驗中，若單縫S從雙縫S1、S2的中央對稱軸位置處稍微往上移動，通過雙縫S1、S2的光任是相干光，仍可產生干涉條紋，中央亮紋的位置經過s1、s2到s的路程差任等於0。ss1＜ss2,ss1+s1p=ss2+s2p那麼s1p＞s2p即s1在上，中央亮紋P的位置略向下移.