Ⅰ 水分测定仪测定结果重复性差的原因有哪些怎么改善
得利特(北京)专业为您解析水分测定仪测定结果重复性差的原因及改善措施:
1、样品不均匀,即样品有不同的组分。样品越不均匀,需要的样品量也会越大,这样才能够得到重复性非常良好的测试结果;
2、选定的干燥时间太短的时候(对“定时关机”模式而言)。延长干燥时间或者选一合适的“单位时间失重”关机模式;
3、样品未完全变干(形成结皮现象)。借助于玻璃纤维盘来干燥的样品;
4、干燥温度太高,样品已氧化。降低干燥温度;
5、样品沸腾,连续向外溅出使得质量改变。降低干燥温度;
6、卤素灯的防护玻璃受污染,加热能力不足。需要清洁卤素灯的防护玻璃;
7、温度传感器被污染或者有故障。清洁温度传感器或者由专业维修工程师来进行更换;
8、安放仪器的支座不稳的时候。采用稳定的支座;
9、周围的环境很不稳定(振动等),调整环境条件。
Ⅱ 金属检测仪使用过程灵敏不达标是什么原因
目前金属检测仪有着多种检测方式,采用数字化双频、数字化单频、模拟机等不同的检测方式,其对应的检测灵敏度也是有所差别的;
2、设备检测口大小的不同亦会对灵敏度有所影响,检测口越小其灵敏度越高;同理,检测物品与检测探头接触面越小,检测精度会越高;
3、抛开设备自身的因素外,还要考虑检物的特性,因为产品效应是影响金属检测仪灵敏度的重要因素,像包装材质、温度、形状、含水量等会形成较大影响的产品效应,这种情况要根据不同的情况对灵敏度进行调节;
4、除了设备和产品因素外,还要注意金属检测仪的使用环境,如果环境周边有金属、磁性、振动等因素,是会对设备的检测造成一定干扰,从而导致灵敏不达标的情况,这是需要避免;
Ⅲ 测量误差产生的原因
误差产生的原因主要有:⑴仪器及工具的构造精度和校正不完善:每种仪器有一定限度的精密程度,因而观测值的精确度也必然受到一定的限度。同时仪器本身在设计、制造、安装、校正等方面也存在一定的误差,如钢尺的刻划误差、度盘的偏心等。⑵观测者的视觉能力和技能水平:由于观测者感觉器官鉴别能力有一定的局限性,在仪器安置、照准、读数等方面都产生误差。同时观测者的技术水平、工作态度及状态都对测量成果的质量有直接影响。⑶观测时的自然条件等:观测时所处的外界条件,如温度、湿度、大气折光等因素都会对观测结果产生一定的影响。外界条件发生变化,观测成果将随之变化。 上述三方面的因素是引起观测误差的主要来源,因此把这三方面因素综合起来称为观测条件。观测条件的好坏与观测成果的质量有着密切的联系Ⅳ 电子仪器测量误差产生的原因是什么
一、仪器误差:任何仪器都有一定的精度,但会有一些剩余误差。
二、人为误差:由于人的感官的鉴别能力的局限性,在瞄准读数方面都会产生误差。
三、外界条件影响:如温度、湿度、风力、日照、气压、大气折光等因素,必然会造成误差。
Ⅳ 测量误差产生的原因
测量误差产生的原因概括起来有下列3个方面。
1)仪器及工具。测量仪器和工具的精密度以及仪器本身校正不完善等,都会使测量结果受到影响。仪器在装配、使用的过程中,仪器部件老化、松动或装配不到位使得仪器存在着自身的误差。
2)观测者。观测者是通过自身的感觉器官来工作的,由于人的感觉器官鉴别能力的限制,使得在安置仪器、瞄准目标及读数等方面都会产生误差。
3)外界条件。观测过程所处的外界条件,如温度、湿度、风力、日光、大气折光及烟雾等因素会给观测结果造成影响,而且这些因素随时发生变化,必然会给观测值带来误差。
人、仪器、外界条件是引起观测误差的主要因素,通常把这3个因素的综合影响称为“观测条件”。观测条件好,测量结果的精度就高;观测条件差,测量结果的精度就低。观测条件相同的一系列观测称为等精度观测;观测条件不同的各次观测称为不等精度观测。
Ⅵ 测量误差产生的原因有
问题一:测量误差产生的原因有哪些? 测量误差有三个主要来源:1,测量仪器:一方面是由于每种仪器只具有一定限度的准确度;二是仪器本身的误差);2,观测者:由于观测者感觉器官的鉴别能力有限,所以在仪器的安置、照准、读数等方面都会产生误差。同时,观测者的技术水平和工作态度,也是对观测数据质量有直接影响的重要因素;3,外界条件:观测时所处的外界条件,如温度、湿度、风力、大气折光等因素和变锭都会对观测数据直接产生影响。
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问题二:产生测量误差的原因有哪些 (1)样品制备过程中欲测组分的损失,如:样品溶解时欲测组分溶解不完全;在浓缩和预分离过程中欲测组分的挥发以及欲测组分的萃取或沉淀不完全等,都会造成欲测组分的损失,造成定量结果的偏低而产生负误差。
(2)由于色谱仪的进样分流比,衰减比不正确或线性响应范围过窄而引起的误差。进样分流比,衰减比不正确,使得真正进入色谱柱的样品量与标称进样量有差别,必然会引入误差。线性响应范围过窄,容易引起由于进样量不当,使其响应值已超出响应的线性范围,而计算方法仍按线性响应关系计算,也必然会引入误差。
(3)由于采用了不正确的标准校正曲线或不正确的校正因子而产生的误差。不正确的标准校正曲线或不正确的校正因子可能是由于在测定它们时使用的标准样品由于玷污或挥发而使其标称值与真值有差异,结果造成标准校正曲线或校正因子的不正确。
(4)由于测量者的不良习惯与偏向,在读取容量器皿(移液管,容量瓶等)和注射进样器刻度或测量峰面积、峰高时的偏高或偏低而引入的误差。这些可以通过纠正测量者的不良习惯与偏向或采用自动进样,自动测量等方法加以校正。
问题三:引起测量误差的原因 根据误差产生的原因及性质可分为系统误差与偶然误差两类。
系统误差包括:1、由于仪器结构上不够完善或仪器未经很好校准等原因会产生误差。例如,各种刻度尺的热胀冷缩,温度计、表盘的刻度不准确等都会造成误差。2、由于实验本身所依据的理论、公式的近似性,或者对实验条件、测量方法的考虑不周也会造成误差。例如,热学实验中常常没有考虑散热的影响,用伏安法测电阻时没有考虑电表内阻的影响等。3、由于测量者的生理特点,例如反应速度,分辨能力,甚至固有习惯等也会在测量中造成误差。
以上都是造成系统误差的原因。系统误差的特点是测量结果向一个方向偏离,其数值按一定规律变化。我们应根据具体的实验条件,系统误差的特点,找出产生系统误差的主要原因,采取适当措施降低它的影响。
偶然误差是在相同条件下,对同一物理量进行多次测量,由于各种偶然因素,会出现测量值时而偏大,时而偏小的误差现象,这种类型的误差叫做偶然误差。产生偶然误差的原因很多,例如读数时,视线的位置不正确,测量点的位置不准确,实验仪器由于环境温度、湿度、电源电压不稳定、振动等因素的影响而产生微小变化,等等,这些因素的影响一般是微小的,而且难以确定某个因素产生的具体影响的大小,因此偶然误差难以找出原因加以排除。但是实验表明,大量次数的测量所得到的一系列数据的偶然误差都服从一定的统计规律,这些规律有:(1)绝对值相等的正的与负的误差出现机会相同 ;(2)绝对值小的误差比绝对值大的误差出现的机会多;(3)误差不会超出一定的范围。实验结果还表明,在确定的测量条件下,对同一物理量进行多次测量,并且用它的算术平均值作为该物理量的测量结果,能够比较好地减少偶然误差。
问题四:测量误差按其产生原因不同分为那三中误差 产生测量误差的因素是多方面的,概括起来有以下三个因素:
1、仪器精度误差。仪器精度的有限性,测量中使用的仪器和工具不可能十分完善,致使测量结果产生误差。例如:用普通水准尺进行水准测量时,最小分划为5,就难以保证毫米数的完全正确性。经纬仪、水准仪检校不完善产生的残余误差影响,例如:水准仪视准轴部平行于水准管轴,水准尺的分划误差等。这些都会使观测结果含有误差。
2、主观误差。观测者感觉器官鉴别能力的局限性;会对测量结果产生一定的影响,例如对中误差、观测者估读小数误差、瞄准目标误差等。
3、环境误差。观测过程中,外界条件的不定性,如温度、阳光、风等时刻都在变化,必将对观测结果产生影响,例如:温度变化使钢尺产生伸缩,阳光照射会使仪器发生微小变化,较阴的天气会使目标不清楚等。
问题五:建筑测量中测量误差产生的原因有哪三个? 仪器误差,气候误差,人为误差
测量工作是在一定条件下进行的,外界环境、观测者的技术水平和仪器本身构造的不完善等原因,都可能导致测量误差的产生。通常把测量仪器、观测者的技术水平和外界环境三个方面综合起来,称为观测条件。观测条件不理想和不断变化,是产生测量误差的根本原因。通常把观测条件相同的各次观测,称为等精度观测;观测条件不同的各次观测,称为不等精度观测。
具体来说,测量误差主要来自以下四个方面:
(1) 外界条件 主要指观测环境中气温、气压、空气湿度和清晰度、风力以及大气折光等因素的不断变化,导致测量结果中带有误差。
(2) 仪器条件 仪器在加工和装配等工艺过程中,不能保证仪器的结构能满足各种几何关系,这样的仪器必然会给测量带来误差。
(3) 方法 理论公式的近似限制或测量方法的不完善。
(4) 观测者的自身条件 由于观测者感官鉴别能力所限以及技术熟练程度不同,也会在仪器对中、整平和瞄准等方面产生误差。
Ⅶ 影响仪器精度的主要因素有哪些
在影响仪器仪表精度和性能的各种因素有:
1.仪器仪表的力值传感器,因为传感器的好坏决定了试验机的精度和测力稳定性。
2.驱动传感器运动的部件滚珠丝杠,因为丝杆如果有间隙的话将来做出的试验数据,将直接应响试验的最大变形和断后伸长率。
3.仪器仪表的传动系统,现在市场上的拉力机传动系统有的采用减速机,有的采用普通皮带,这两种传动方式的主要弊端:前种需要定期加润滑油,后种则保证不了传动的同步性影响试验结果。
4.电子拉力试验机的动力源(电机)也叫马达,现在市场上有的拉力机采用普通三相电机或变频电机,这种电机采用模拟信号控制,控制反应慢,定位不准确。
5.电子拉力试验设备的测控系统(也就是软件和硬件),现在市场上大部分拉力机的测控系统采用的是8位的单片机控制,采样速率低,且抗干扰能力差。