Ⅰ 水分測定儀測定結果重復性差的原因有哪些怎麼改善
得利特（北京）專業為您解析水分測定儀測定結果重復性差的原因及改善措施：
1、樣品不均勻，即樣品有不同的組分。樣品越不均勻，需要的樣品量也會越大，這樣才能夠得到重復性非常良好的測試結果；
2、選定的乾燥時間太短的時候（對「定時關機」模式而言）。延長乾燥時間或者選一合適的「單位時間失重」關機模式；
3、樣品未完全變干（形成結皮現象）。藉助於玻璃纖維盤來乾燥的樣品；
4、乾燥溫度太高，樣品已氧化。降低乾燥溫度；
5、樣品沸騰，連續向外濺出使得質量改變。降低乾燥溫度；
6、鹵素燈的防護玻璃受污染，加熱能力不足。需要清潔鹵素燈的防護玻璃；
7、溫度感測器被污染或者有故障。清潔溫度感測器或者由專業維修工程師來進行更換；
8、安放儀器的支座不穩的時候。採用穩定的支座；
9、周圍的環境很不穩定（振動等），調整環境條件。
Ⅱ 金屬檢測儀使用過程靈敏不達標是什麼原因
目前金屬檢測儀有著多種檢測方式，採用數字化雙頻、數字化單頻、模擬機等不同的檢測方式，其對應的檢測靈敏度也是有所差別的；
2、設備檢測口大小的不同亦會對靈敏度有所影響，檢測口越小其靈敏度越高；同理，檢測物品與檢測探頭接觸面越小，檢測精度會越高；
3、拋開設備自身的因素外，還要考慮檢物的特性，因為產品效應是影響金屬檢測儀靈敏度的重要因素，像包裝材質、溫度、形狀、含水量等會形成較大影響的產品效應，這種情況要根據不同的情況對靈敏度進行調節；
4、除了設備和產品因素外，還要注意金屬檢測儀的使用環境，如果環境周邊有金屬、磁性、振動等因素，是會對設備的檢測造成一定干擾，從而導致靈敏不達標的情況，這是需要避免；
Ⅲ 測量誤差產生的原因
誤差產生的原因主要有：⑴儀器及工具的構造精度和校正不完善：每種儀器有一定限度的精密程度，因而觀測值的精確度也必然受到一定的限度。同時儀器本身在設計、製造、安裝、校正等方面也存在一定的誤差，如鋼尺的刻劃誤差、度盤的偏心等。⑵觀測者的視覺能力和技能水平：由於觀測者感覺器官鑒別能力有一定的局限性，在儀器安置、照準、讀數等方面都產生誤差。同時觀測者的技術水平、工作態度及狀態都對測量成果的質量有直接影響。⑶觀測時的自然條件等：觀測時所處的外界條件，如溫度、濕度、大氣折光等因素都會對觀測結果產生一定的影響。外界條件發生變化，觀測成果將隨之變化。 上述三方面的因素是引起觀測誤差的主要來源，因此把這三方面因素綜合起來稱為觀測條件。觀測條件的好壞與觀測成果的質量有著密切的聯系Ⅳ 電子儀器測量誤差產生的原因是什麼
一、儀器誤差：任何儀器都有一定的精度，但會有一些剩餘誤差。
二、人為誤差：由於人的感官的鑒別能力的局限性，在瞄準讀數方面都會產生誤差。
三、外界條件影響：如溫度、濕度、風力、日照、氣壓、大氣折光等因素，必然會造成誤差。
Ⅳ 測量誤差產生的原因
測量誤差產生的原因概括起來有下列3個方面。
1）儀器及工具。測量儀器和工具的精密度以及儀器本身校正不完善等，都會使測量結果受到影響。儀器在裝配、使用的過程中，儀器部件老化、松動或裝配不到位使得儀器存在著自身的誤差。
2）觀測者。觀測者是通過自身的感覺器官來工作的，由於人的感覺器官鑒別能力的限制，使得在安置儀器、瞄準目標及讀數等方面都會產生誤差。
3）外界條件。觀測過程所處的外界條件，如溫度、濕度、風力、日光、大氣折光及煙霧等因素會給觀測結果造成影響，而且這些因素隨時發生變化，必然會給觀測值帶來誤差。
人、儀器、外界條件是引起觀測誤差的主要因素，通常把這3個因素的綜合影響稱為「觀測條件」。觀測條件好，測量結果的精度就高；觀測條件差，測量結果的精度就低。觀測條件相同的一系列觀測稱為等精度觀測；觀測條件不同的各次觀測稱為不等精度觀測。
Ⅵ 測量誤差產生的原因有
問題一：測量誤差產生的原因有哪些？ 測量誤差有三個主要來源：1，測量儀器：一方面是由於每種儀器只具有一定限度的准確度；二是儀器本身的誤差）；2，觀測者：由於觀測者感覺器官的鑒別能力有限，所以在儀器的安置、照準、讀數等方面都會產生誤差。同時，觀測者的技術水平和工作態度，也是對觀測數據質量有直接影響的重要因素；3，外界條件：觀測時所處的外界條件，如溫度、濕度、風力、大氣折光等因素和變錠都會對觀測數據直接產生影響。
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問題二：產生測量誤差的原因有哪些 （1）樣品制備過程中欲測組分的損失，如：樣品溶解時欲測組分溶解不完全；在濃縮和預分離過程中欲測組分的揮發以及欲測組分的萃取或沉澱不完全等，都會造成欲測組分的損失，造成定量結果的偏低而產生負誤差。
（2）由於色譜儀的進樣分流比，衰減比不正確或線性響應范圍過窄而引起的誤差。進樣分流比，衰減比不正確，使得真正進入色譜柱的樣品量與標稱進樣量有差別，必然會引入誤差。線性響應范圍過窄，容易引起由於進樣量不當，使其響應值已超出響應的線性范圍，而計算方法仍按線性響應關系計算，也必然會引入誤差。
（3）由於採用了不正確的標准校正曲線或不正確的校正因子而產生的誤差。不正確的標准校正曲線或不正確的校正因子可能是由於在測定它們時使用的標准樣品由於玷污或揮發而使其標稱值與真值有差異，結果造成標准校正曲線或校正因子的不正確。
（4）由於測量者的不良習慣與偏向，在讀取容量器皿（移液管，容量瓶等）和注射進樣器刻度或測量峰面積、峰高時的偏高或偏低而引入的誤差。這些可以通過糾正測量者的不良習慣與偏向或採用自動進樣，自動測量等方法加以校正。
問題三：引起測量誤差的原因 根據誤差產生的原因及性質可分為系統誤差與偶然誤差兩類。
系統誤差包括：1、由於儀器結構上不夠完善或儀器未經很好校準等原因會產生誤差。例如，各種刻度尺的熱脹冷縮，溫度計、表盤的刻度不準確等都會造成誤差。2、由於實驗本身所依據的理論、公式的近似性，或者對實驗條件、測量方法的考慮不周也會造成誤差。例如，熱學實驗中常常沒有考慮散熱的影響，用伏安法測電阻時沒有考慮電表內阻的影響等。3、由於測量者的生理特點，例如反應速度，分辨能力，甚至固有習慣等也會在測量中造成誤差。
以上都是造成系統誤差的原因。系統誤差的特點是測量結果向一個方向偏離，其數值按一定規律變化。我們應根據具體的實驗條件，系統誤差的特點，找出產生系統誤差的主要原因，採取適當措施降低它的影響。
偶然誤差是在相同條件下，對同一物理量進行多次測量，由於各種偶然因素，會出現測量值時而偏大，時而偏小的誤差現象，這種類型的誤差叫做偶然誤差。產生偶然誤差的原因很多，例如讀數時，視線的位置不正確，測量點的位置不準確，實驗儀器由於環境溫度、濕度、電源電壓不穩定、振動等因素的影響而產生微小變化，等等，這些因素的影響一般是微小的，而且難以確定某個因素產生的具體影響的大小，因此偶然誤差難以找出原因加以排除。但是實驗表明，大量次數的測量所得到的一系列數據的偶然誤差都服從一定的統計規律，這些規律有：（1）絕對值相等的正的與負的誤差出現機會相同 ；（2）絕對值小的誤差比絕對值大的誤差出現的機會多；（3）誤差不會超出一定的范圍。實驗結果還表明，在確定的測量條件下，對同一物理量進行多次測量，並且用它的算術平均值作為該物理量的測量結果，能夠比較好地減少偶然誤差。
問題四：測量誤差按其產生原因不同分為那三中誤差 產生測量誤差的因素是多方面的，概括起來有以下三個因素：
1、儀器精度誤差。儀器精度的有限性，測量中使用的儀器和工具不可能十分完善，致使測量結果產生誤差。例如:用普通水準尺進行水準測量時，最小分劃為5，就難以保證毫米數的完全正確性。經緯儀、水準儀檢校不完善產生的殘余誤差影響，例如：水準儀視准軸部平行於水準管軸，水準尺的分劃誤差等。這些都會使觀測結果含有誤差。
2、主觀誤差。觀測者感覺器官鑒別能力的局限性；會對測量結果產生一定的影響，例如對中誤差、觀測者估讀小數誤差、瞄準目標誤差等。
3、環境誤差。觀測過程中，外界條件的不定性，如溫度、陽光、風等時刻都在變化，必將對觀測結果產生影響,例如:溫度變化使鋼尺產生伸縮，陽光照射會使儀器發生微小變化，較陰的天氣會使目標不清楚等。
問題五：建築測量中測量誤差產生的原因有哪三個？ 儀器誤差，氣候誤差，人為誤差
測量工作是在一定條件下進行的，外界環境、觀測者的技術水平和儀器本身構造的不完善等原因，都可能導致測量誤差的產生。通常把測量儀器、觀測者的技術水平和外界環境三個方面綜合起來，稱為觀測條件。觀測條件不理想和不斷變化，是產生測量誤差的根本原因。通常把觀測條件相同的各次觀測，稱為等精度觀測；觀測條件不同的各次觀測，稱為不等精度觀測。
具體來說，測量誤差主要來自以下四個方面：
(1) 外界條件 主要指觀測環境中氣溫、氣壓、空氣濕度和清晰度、風力以及大氣折光等因素的不斷變化，導致測量結果中帶有誤差。
(2) 儀器條件 儀器在加工和裝配等工藝過程中，不能保證儀器的結構能滿足各種幾何關系，這樣的儀器必然會給測量帶來誤差。
(3) 方法 理論公式的近似限制或測量方法的不完善。
(4) 觀測者的自身條件 由於觀測者感官鑒別能力所限以及技術熟練程度不同，也會在儀器對中、整平和瞄準等方面產生誤差。
Ⅶ 影響儀器精度的主要因素有哪些
在影響儀器儀表精度和性能的各種因素有：
1.儀器儀表的力值感測器，因為感測器的好壞決定了試驗機的精度和測力穩定性。
2.驅動感測器運動的部件滾珠絲杠，因為絲桿如果有間隙的話將來做出的試驗數據，將直接應響試驗的最大變形和斷後伸長率。
3.儀器儀表的傳動系統，現在市場上的拉力機傳動系統有的採用減速機，有的採用普通皮帶，這兩種傳動方式的主要弊端：前種需要定期加潤滑油，後種則保證不了傳動的同步性影響試驗結果。
4.電子拉力試驗機的動力源(電機)也叫馬達，現在市場上有的拉力機採用普通三相電機或變頻電機，這種電機採用模擬信號控制，控制反應慢，定位不準確。
5.電子拉力試驗設備的測控系統(也就是軟體和硬體)，現在市場上大部分拉力機的測控系統採用的是8位的單片機控制，采樣速率低，且抗干擾能力差。